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德国KD卡尔德意志LEPTOSKOP2042NFE统计型涂层测厚仪

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产品名称: 德国KD卡尔德意志LEPTOSKOP2042NFE统计型涂层测厚仪
产品型号: LEPTOSKOP2042NFE
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简单介绍

德国KD卡尔德意志LEPTOSKOP2042NFE统计型涂层测厚仪上海五久自动化设备有限公司专业自动化成套供应商,主营产品有压力仪表,温度仪表,传感器,无损检测设备,开关等多种配件和设备,力争做到人无我有,人有我优。有需要可以联系公司在线客服。欢迎您的光临。


德国KD卡尔德意志LEPTOSKOP2042NFE统计型涂层测厚仪  的详细介绍

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 简介

● LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。

● LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。

● 仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。

● LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。

● 彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

EPTOSKOP2042涂层测厚仪 技术参数

数据传输接口RS232 或 USB
电源:电池、充电电池、USB或外接电源
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
测量速度: 每秒测量2个数值
存储: *多 9999 个数值,140个文件
误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um


LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 附件

, ● 试块和膜片

● 探头定位装置 (适用于微型探头),

● 定位辅助装置 (适用于微型探头)

● 电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理

● 电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows

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德国卡尔德意志 授权书

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