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TESA MICRO-HITE 350测高仪

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产品名称: TESA MICRO-HITE 350测高仪
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简单介绍

TESA MICRO-HITE 350测高仪 -杰出的设计,专注测量平面、平行或圆柱表面的内部、外部、高度、深度、阶梯和距离等任何几何特征尺寸。 -自动搜索孔或轴的顶点,在动态探测中记录*大、*小值以及*大*小值之间的差值计算。 TESA IG-13数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差,并以ISO1101标准输出数据。 -在电子测高仪上20年的制造经验造就了高品质的设计,代表了当今的技术水平的发展。


TESA MICRO-HITE 350测高仪  的详细介绍
-杰出的设计,专注测量平面、平行或圆柱表面的内部、外部、高度、深度、阶梯和距离等任何几何特征尺寸。
-自动搜索孔或轴的顶点,在动态探测中记录*大、*小值以及*大*小值之间的差值计算。
TESA IG-13数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差,并以ISO1101标准输出数据。
-在电子测高仪上20年的制造经验造就了高品质的设计,代表了当今的技术水平的发展。

TESA MICRO-HITE 350测高仪

TESA MICRO-HITE 350

TESA MICRO-HITE 350

TESA MICRO-HITE 350测高仪

TESA MICROHITE 350

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