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SD2000 晶振测试系统

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产品名称: SD2000 晶振测试系统
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简单介绍

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SD2000 晶振测试系统  的详细介绍
SD2000 晶振测试系统

详细说明

主要特点


由微机、射频开关和高分辨率计数器组成自动测试系统


可用于晶振老化测试和温度测试,自动完成老化漂移、稳定度、准确度、日波动等参数的测量


通过射频开关的组合,可组成64-N路测试矩阵


自动记录储存测试数据,自动形成测试曲线


主要技术指标



频率范围:DC~100MHz

隔离度:120dB(5MHz); 90dB (100MHz)


SD2000

SD2000 晶振测试系统

SD2000

SD2000 晶振测试系统

沪公网安备 31011402002796号