IM3523 LCR测试仪

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产品名称: IM3523 LCR测试仪

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简单介绍

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IM3523 LCR测试仪 的详细介绍

IM3523 LCR测试仪

上海五久IM3523 LCR测试仪是一款专为电子元器件检测及生产线场景设计的精密测量设备，适用于电容、电感、电阻等参数的快速高效分析。其核心性能与功能特点如下：

‌频率范围‌：支持直流及40Hz至200kHz交流信号测试，覆盖常见电子元件的特征频率需求‌12。
‌基础精度‌：±0.05%，可准确测量100mΩ至100MΩ的阻抗范围，适配微小元件到高阻值器件的多样化场景‌14。
‌测量参数‌：支持Z（阻抗）、Y（导纳）、θ（相位角）、D（损耗因子）、Q（品质因数）等18种参数，兼容串联与并联等效模型，满足复杂工况下的混合测量需求‌13。

测试仪主机未标配测量探头及夹具，用户需根据实际需求选配适配配件。探头采用1.5D-2V同轴电缆设计，确保信号传输稳定性‌12。

IM3523以高精度、快速响应及灵活扩展性为核心，兼顾生产线效率与研发场景的复杂需求，适用于电子制造、元器件质检等领域，为多频段参数分析提供高效解决方案‌24。

IM3523 LCR测试仪

● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间

本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。

基本参数

测量模式	LCR,连续测试
测量参数	Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程	100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程	Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为Z高分辩率时的显示位数）只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率	40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
测量信号电平	正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
输出阻抗	正常模式：100Ω
显示	单色LCD
测量时间	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能
接口	EXT I/O(处理器)，USB通信(高速) 选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源	100～240V AC，50/60Hz，Z大50VA
尺寸及重量	260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件	电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1