3504-40 C测试仪

点击看大图

如果您对该产品感兴趣的话,可以

产品名称: 3504-40 C测试仪

产品型号:

产品价格: 0.00 元

折扣价格: 0.00 元

产品文档: 无相关文档

简单介绍

3504-40 C测试仪在哪里什么地方购买价格实惠合理使用简单方便如何查看使用说明书方法

3504-40 C测试仪 的详细介绍

3504-40 C测试仪

上海五久3504-40 C测试仪是一款专为电子元器件生产线设计的高效检测设备，适用于电容器等元件的自动化质量判定与分类场景。该设备通过快速测量电容值（C）和损耗系数（D），实现元器件性能的精准评估，支持产线快速分选与工艺优化‌1。

‌核心功能‌

‌技术优势‌

‌应用领域‌
该设备主要应用于电容器制造、电子元件分选、消费电子品控等场景，尤其适用于需快速筛选与分级的高密度生产线。其紧凑型设计可适配不同规模的产线布局，满足从中小批量到规模化生产的多样化需求‌1。

3504-40 C测试仪

● G速测量2ms
● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现G速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

基本参数

测量参数	Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本精度	（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
测量频率	120Hz, 1kHz
测量信号电平	恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻	5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
显示	发光二级管（6位表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能	BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源	AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA
体积及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1